信息摘要:
雷達液位計是通過向被測介質發射電(diàn)磁波,發射後的電磁波遇到介質被反射回(huí)來,通過時間擴展技術原理,計算(suàn)出電磁波發射和接收(shōu)的時間間隔,從而…
雷達液(yè)位(wèi)計
是通過向被測介質發射電磁波,發射後(hòu)的電(diàn)磁波遇到(dào)介質被反射回來,通過時間擴展技術原理(lǐ),計算出電磁波發射和接收的時間間隔,從而進一步推算出天線到(dào)被(bèi)測(cè)介質表麵的距離。可見,雷達液(yè)位計能否順利(lì)發射出電信號對於液位測(cè)量就顯得頗為關鍵(jiàn)。但在我們日常工作中,信號被幹擾的現(xiàn)象時有發生。那麽,導致雷達液位計信號異(yì)常的幹擾因(yīn)素都(dōu)有哪些呢?
通過對導致雷達液位計的信(xìn)號異常的因素進行分析發現,產(chǎn)生幹擾的原因有很多,幹擾源也多種多樣。但(dàn)總體而言可以分為兩類:一類(lèi)是內部幹擾,另一(yī)類是外部幹擾。
一、外部幹擾
1、天體、天電幹擾
天(tiān)體就是指太陽或是其他的(de)恒(héng)星,因此天體幹擾指的就是它們發(fā)出的電磁波對雷達液位計發出的信號產生了一定(dìng)的幹(gàn)擾。
但對於天電(diàn)這個術語,大家(jiā)普遍感到陌生(shēng)。其實,所謂天電,可以將其理解為由大氣、雷電等電離作用,或是火山、地震等自然現象產生的電磁波對雷達液位計的信號產生的幹擾。
2、光幹擾
光的幹擾主要在於半導體部件。在用來控製儀表的部件當中,多由半導(dǎo)體材料製成,而半導體元件在受到(dào)光的影響後,其導電性能就會改變,這樣一來,就會影(yǐng)響雷達液位計的正常使用。
3、熱幹擾(rǎo)
火電廠(chǎng)作業過程中,其熱力設備會產生大量的熱(rè)量,這些熱(rè)量會引起周圍儀器以及環境溫度的變化,這也就是我(wǒ)們(men)所說的熱幹擾。這些幹擾會(huì)對(duì)雷達液位計的元(yuán)件產生(shēng)影響,進一步導致測量不精確等問題的(de)出現。
4、濕(shī)度(dù)幹擾
當濕度(dù)升高,就會引起絕緣體電阻下降、電介質介電數增加、骨架蓬鬆、電阻增加,進而也就(jiù)產生漏電流增加、電容量增加、電感器變化等。此外還會使(shǐ)膠質變(biàn)軟,測量精也會(huì)下降。
5、機械幹擾
所謂機械幹擾,是指由於外部機器的大幅震動或衝擊,影響到雷達液(yè)位(wèi)計,使雷達液位計內部的(de)一些元件同樣發生震動甚至是移位(wèi)、變(biàn)形,也可能(néng)使儀表頭指針鬆動,使測量產生(shēng)誤差,對於這種情況我們通常(cháng)加以隔板、減震彈簧等來緩解衝擊。
6、化學幹擾
化學幹(gàn)擾通常是指一些具有腐蝕性的氣體,例如酸、堿等,這些氣體長時間的作用,不僅僅會損壞儀器及內部元(yuán)件,還會與(yǔ)金屬作用導電,影響雷達液位計的正常工作。
二、內部幹擾(rǎo)
幹擾不僅僅來自(zì)於外部,也來自於(yú)雷達液(yè)位計內部。例如其中的導線、電源變壓器(qì)電(diàn)子(zǐ)元件之間的電感、電容等所(suǒ)產(chǎn)生的幹擾,此外,內部元(yuán)件還(hái)會產生噪聲幹擾。如今,大部分的雷(léi)達液位計經(jīng)改進後,由於采用了高(gāo)頻率微波技術,使液位計的性能大為改善,幹擾(rǎo)也(yě)隨之(zhī)降低。